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高電壓擊穿強度測量系統(tǒng)的核心配件

更新時間:2024-01-04      點擊次數(shù):716

高電壓的測量
本章核心概念:
標準測量系統(tǒng)與認可測量系統(tǒng),擴展不確定度,測量球隙,電阻分壓器,電容分壓器,阻容分壓器,匹配阻抗,階躍響應(yīng),反擊,屏蔽與抗干擾
7.1 高電壓測量基本概念
7.1.1 概論
測量高電壓擊穿的難度較大,有許多測量低電壓時不存在的新問題。高電壓下必須嚴格重視儀器設(shè)備和人身安全、做好防護措施;在測量較高電壓時不僅有泄漏的影響,還有電暈的影響;在交流電壓和沖擊電壓下有雜散參數(shù)的影響,沖擊電壓下還要求良好的階躍響應(yīng)特性;電壓高達數(shù)兆伏時,難度更大。
高電壓擊穿的測量可從測量方法和測量對象兩個角度去分析,表7-1綜合了高電壓測量體系中的高電壓測量具體方法和測量對象,并給出了方法的適用性。
高電壓測量包括穩(wěn)態(tài)高電壓測量和沖擊高電壓測量。穩(wěn)態(tài)高電壓是指交流高電壓和直流高電壓以及頻率在一定范圍以內(nèi)的高頻高壓或脈動成分很大的直流高壓。在高電壓測量中,除采用測量球隙等直接測量法外,還經(jīng)常采用多種轉(zhuǎn)換裝置的間接測量方法。常用分壓器就是由高壓臂阻抗和低壓臂阻抗組成的一種轉(zhuǎn)換裝置,其他例如電壓互感器及電流互感器也是轉(zhuǎn)換裝置。通過轉(zhuǎn)換裝置將被測的量轉(zhuǎn)變成指示儀表或記錄儀器所能指示或記錄的量。
7.1.2 高電壓測量系統(tǒng)
有關(guān)高電壓擊穿試驗技術(shù)的國家標準GB/T16927.2-2013和GB/T16927.4-2014中,把用來進行高電壓擊穿或沖擊電流測量的整套裝置稱為測量系統(tǒng)。測量系統(tǒng)通常包括以下組件:轉(zhuǎn)換裝置、轉(zhuǎn)換裝置接到試品或電流回路的引線、接地連線、轉(zhuǎn)換裝置的輸出端接到指示或記錄儀器的連接系統(tǒng)等,其中包括了所有的衰減、終端、匹配阻抗或網(wǎng)絡(luò)、指示或記錄儀器及其接到電源的連線。

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IEC60060-2:2010和GB/T16927.2-2013都把測量系統(tǒng)分為兩類:標準(reference)測量系統(tǒng)和認可的測量系統(tǒng)(approved measuring system)。前者具有更高的測量準確度,可用以與后者進行比對并加以校準。實驗室中一般使用認可的測量系統(tǒng)進行測量工作。本書中所敘述到的測量的不確定度的要求,除特殊說明外,均指對認可的測量系統(tǒng)的要求。在高電壓試驗中,測量的不確定度用擴展不確定度來描述。擴展不確定度是確定測量結(jié)果區(qū)間的量,被測量之值分布的大部分可望包含于此區(qū)間中,它的覆蓋率小于100%。
為文字簡潔,不做特殊說明時,將“認可的測量系統(tǒng)"簡稱為“測量系統(tǒng)"。
7.1.3 交直流高電壓的測量
本章所說的穩(wěn)態(tài)高電壓,主要是指工頻交流高電壓和直流高電壓。但本節(jié)所述及的測量方法或裝置,有的也可用于頻率在一定范圍之內(nèi)的其他穩(wěn)態(tài)高電壓。
對交流電壓有效值的測量,和對直流電壓算術(shù)平均值的測量,都要求擴展不確定度不超過±3%;測量直流電壓的紋波幅值時,要求其擴展不確定度不超過±10%的紋波幅值或±1%的直流電壓平均值。對測量交流電壓和直流電壓的算術(shù)平均值的標準測量系統(tǒng),都要求擴展不確定度不超過±1%。

電力運行部門測量交流高電壓是通過電壓互感器和電壓表來實現(xiàn)的。但這種方法在高電壓實驗室中用得不多,因為高電壓實驗室中所要測量的電壓值往往比現(xiàn)有電壓互感器的額定電壓高得多,特制一個超高壓的電壓互感器是比較昂貴的,所以采用別的方法來測量交流高電壓。有下列幾種:
1)利用氣體放電測量交流、直流高電壓,例如測量球隙;
2)利用靜電力測量交流、直流高電壓,例如靜電電壓表;
3)利用整流電容電流測量交流高電壓,例如峰值電壓表;
4)利用整流充電電壓測量交流高電壓,例如峰值電壓表。
上述(1)和(2)可用來直接測量穩(wěn)態(tài)高電壓,(3)和(4)是間接測量的方法。
各種測量儀表的量程是有限度的,常常通過分壓器來擴大儀表的量程。即使被測電壓的大部分電壓降降落在分壓器的高壓臂上,測量儀表測得的僅是低壓臂上的電壓降,再乘上分壓比即可得被測電壓。
光纖技術(shù)在電工領(lǐng)域中的應(yīng)用日益廣泛。光導(dǎo)纖維本身是絕緣材料,因此光纖技術(shù)應(yīng)用在高電壓測量時,可無雜散和電磁干擾的影響,具有很大的*性。在進行穩(wěn)態(tài)電壓測量時,無頻率特性的要求,只要注意選用溫度特性良好的光電元件,就比較容易滿足測量準確度的要求。光電測量高電壓需要用其他測量方法加以校正。
7.1.4 沖擊高電壓的測量
沖擊電壓,無論是雷電沖擊電壓或操作沖擊電壓,均為快速變化或較快速變化的一種電壓。測量沖擊電壓的整個測量系統(tǒng)包括其中的電壓轉(zhuǎn)換裝置和指示、記錄及測量儀器必須具備良好的瞬態(tài)響應(yīng)特性。一些適宜于測量穩(wěn)態(tài)或慢過程(如直流和交流電壓)的測量系統(tǒng)不一定適宜于或根本不可能測量沖擊電壓。沖擊電壓的測量包括峰值測量和波形記錄兩個方面。標準規(guī)定的沖擊電壓測量系統(tǒng)的要求是:
1)測量沖擊全波峰值的擴展不確定度為±3%范圍內(nèi)。
2)測量沖擊截波的擴展不確定度取決于截斷時間Tc。當0.5μs≤Tc<2 μs時,擴展不確定度在±5%范圍內(nèi);當T≥2 μs時,擴展不確定度在±3%范圍內(nèi)。
3)測量沖擊波形時間參數(shù)(如波前時間、半峰值時間、截斷時間等)的擴展不確定度在±10%范圍內(nèi)。
實驗室中對沖擊高電壓的測量有如下幾種方法:
1)球隙法 直接測高電壓峰值的一種方法。
2)分壓器-峰值電壓表 只測峰值,不測波形,或同時用示波器觀測波形。
3)分壓器-示波器(或數(shù)字記錄儀)可同時測出峰值及波形。在采用數(shù)字式示波器或數(shù)字記錄儀時,可立即獲得峰值和時間參數(shù)值,并可打印出波形。
4)光電測量法 采用光電轉(zhuǎn)化技術(shù)和光纖傳輸技術(shù)的測量法。有的仍需與分壓器配合,有的則不需要分壓器,測量系統(tǒng)中具有專門的傳感器或電容探頭。

 

 

7.2 球隙放電法測量高電壓
7.2.1 測量球隙
1.球隙法
應(yīng)用兩個金屬球空氣間隙放電電壓與球隙距離的關(guān)系來測量高電壓的方法稱作球隙放電法??諝庵挥性谝欢ǖ碾妶鰪姸认?,才能發(fā)生碰撞電離。均勻電場下空氣間隙的放電電壓與間隙距離具有一定的關(guān)系,可以利用間隙放電來測量電壓。能實際應(yīng)用的均勻電場不易做到,只能做到接近于均勻電場。測量球隙由一對相同直徑的金屬球構(gòu)成。加電壓時,球隙間形成稍不均勻電場。當其余條件相同時,球間隙在大氣中的擊穿電壓取決于球間隙的距離。對一定球徑,間隙中的電場隨距離的增長而越來越不均勻。被測電壓越高,間隙距離越大,要求球徑也越大,這樣才能保持稍不均勻電場。由于測量球并不是處在無限大空間里,外物及大地對球間電場有影響,所以很難用靜電場理論來計算球間的電場強度和擊穿電壓,因此測量球隙的放電電壓主要靠試驗來決定。
早在20世紀初,許多國家的高電壓試驗室利用靜電電壓表、峰值電壓表等方法求得各種球徑的球在不同球間隙距離時的穩(wěn)態(tài)擊穿電壓,又利用分壓器和示波器求得其沖擊擊穿電壓。1938年國際電工委員會(IEC)綜合各國試驗室的試驗數(shù)據(jù)制訂出測量球隙放電電壓的標準表,給出了在一定的周圍環(huán)境及氣溫、氣壓條件下某一直徑的球的間隙放電電壓峰值。1960年IEC對1938年頒布的標準表作了修正,到2002年IEC對該標準表又作了修正(見IEC 60052:2002),對應(yīng)于國家標準GB/T 311.6-2005。
球隙法可用于交流電壓、直流電壓、標準全波沖擊電壓(包括雷電沖擊和操作沖擊)峰值的測量。另外,也可以用它測量較高頻率下的衰減和不衰減交流電壓,但對頻率值和電壓值有一定的限制。因球隙放電是與電壓峰值相關(guān)的,所以測量的是電壓的峰值。
2.球隙結(jié)構(gòu)與測量條件
當金屬球間隙距離S與球直徑D之比大于0.5時,其放電電壓數(shù)值的準確性較差。要達到球隙所能達到的測量準確度,其結(jié)構(gòu)和使用條件必須符合IEC或國家標準GB/T 311.6-2005的規(guī)定,如圖7-1(在圖7-1中表明了垂直球需保證的部分尺寸,另有水平球間隙,本書從略)所示,還需進行氣壓、溫度和濕度的校正,因為標準表上提供的放電電壓值是處在溫度為20℃和大氣壓力為101.3kPa及平均絕對濕度為8.5g·m-3標準狀態(tài)下的數(shù)值。在非標準狀態(tài)下利用球隙放電進行電壓測量時,實際放電電壓值由從標準表中查出的數(shù)值乘以空氣相對密度校正因數(shù)δ和濕度校正因數(shù)K,詳見GB/T 311.6-2005,或本書的3.1節(jié)。
測量球的標準球徑D為2cm、5cm、6.25cm、10 cm、12.5 cm、15 cm、25cm、50 cm、75 cm、100cm、150cm和200cm;間隙距離S從0.05cm到150cm??蓽y的電壓峰值從幾千伏到近2000kV。球隙放電電壓與球直徑和球隙距離的對應(yīng)關(guān)系,詳細查閱 IEC 60052:2002和國標GB/T 311.6-2005的球隙放電標準表。
3.預(yù)放電與照射
球隙測量電壓的可靠性取決于測量結(jié)果的分散性。有兩個因素影響放電的分散性:一是球面的塵污;二是球隙間空氣電離不充分。

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垂直測量球隙

 

前者使放電電壓降低。如果空氣中有灰塵或纖維物質(zhì),則會產(chǎn)生不正常的破壞性放電。因此在取得前后一致的數(shù)據(jù)以前,必須進行多次預(yù)放電。在放電電壓值相對穩(wěn)定后,再開始測量計數(shù)。
后者使放電電壓升高。前者對交、直流和沖擊電壓的影響一樣,后者在沖擊電壓下影響更為突出。放電必須由有效自由電子來觸發(fā),交、直流電壓變化慢,持續(xù)時間長,不難在間隙中出現(xiàn)有效自由電子。沖擊電壓變化快,一霎即逝,要在這樣短暫瞬間正好出現(xiàn)有效自由電子比較困難。當測量電壓較高,所用球徑較大,間隙所占空間較大時,出現(xiàn)有效自由電子比較容易;當測量電壓較低,所用球徑較小,間隙所占空間較小時,出現(xiàn)有效自由電子比較困難。所以國際標準規(guī)定,凡所用球徑小于12.5cm或測量電壓低于50kV,都必須用γ射線或紫外線照射,即用人工方法使間隙中空氣電離。一種方法是用石英水銀燈所產(chǎn)生的紫外線照射球隙的擊穿點,要求石英水銀燈的功率不小于35W,電流不小于1A,燈離球有一定距離,希望不因此接地物的存在而影響放電電壓。這項有關(guān)照射的規(guī)定,對測量沖擊和穩(wěn)態(tài)高壓都是適用的,且對于前者作用更為明顯。
7.2.2 球隙法測量交直流高電壓
符合球尺寸和諸多使用條件的規(guī)定后,在交流電壓下測量的擴展不確定度可在±3%范圍以內(nèi)。在直流電壓測量時,由于靜電吸力的作用,灰塵和纖維對放電分散性的影響較大。因此,測量直流高電壓時,當球隙距離不大于0.4D時,若沒有過多的灰塵或纖維的影響,測量的不確定度將在±5%范圍以內(nèi)。
在用球間隙測量交流和直流電壓時,經(jīng)常需在球間隙上串聯(lián)一個保護電阻。以測量交流電壓為例,其正確的接線圖如圖2所示。

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2 測量球隙接線圖
圖中R1是保護變壓器用的電阻;而R2是與球隙串聯(lián)R2
C.一試品;G一球隙

的保護電阻。R2的作用有兩方面:一方面可用它來限制球隙放電時流過球極的短路電流,以免球極燒傷而產(chǎn)生麻點;另一方面當試驗回路出現(xiàn)刷狀放電時,可減少或避免由此產(chǎn)生的瞬態(tài)過電壓所造成的球間隙的異常放電,也就是用此電阻來阻尼局部放電時連接線電感、球隙電容和試品電容等所產(chǎn)生的高頻振蕩。R2應(yīng)放在圖示的位置上,使流過試品的電容電流或泄漏電流(視交流或直流電壓而定)不在R2上產(chǎn)生壓降。
為了限流和阻尼,要求R2大一些;但為了避免由R22上壓降引起的測量誤差,要求R2小一些。對于測量直流和工頻交流電壓,IEC推薦此電阻值為100kΩ或更大些;對于更高頻率的交流電壓,由于間隙的電容效應(yīng)而引起的充電電流可使該電阻上的壓降影響變大,因此應(yīng)適當減小此阻值。
另外,球直徑越大,允許的每伏電壓的電阻值越小,這有兩個原因:第一,球徑大,它的面積也大,熱容量大,而且散熱好;第二,球徑大,球間電容大,電容電流也大。直徑200cm的球,測量電壓為1000kV(有效值)時,電容電流約0.025A(有效值)。若保護電阻取500kΩ,則電阻上的壓降約為12kV,其絕對值雖約占被測電壓的1%;但是由于電阻壓降與球隙電容壓降相角差為90°,因此球隙實際上仍幾乎受到全部的被測電壓,即誤差極小。
在預(yù)放電后,最后測量的交直流電壓值應(yīng)取3次連續(xù)測量值的平均值,其偏差不超過3%。
7.2.3 球隙法測量沖擊高電壓
球隙測量交直流電壓時的許多規(guī)定,仍適用于沖擊電壓測量,本節(jié)只介紹一些特點。沖擊電壓測量標準中規(guī)定,在測量標準全波、波尾截斷的標準波時,峰值電壓的測量擴展不確定度不應(yīng)大于3%,球隙是能滿足此要求的。
一般間隙的沖擊放電電壓高于交流和直流的放電電壓,沖擊比大于1。因為球隙是稍不均勻電場,它的伏秒特性大體上是條水平線,沖擊比等于1。所以IEC標準將球隙的沖擊放電電壓和交、直流放電電壓并列在一張表中,但表中所列是50%放電電壓值。
測量交、直流電壓時,球隙必須串有很大阻值的保護電阻,以保護球面和防止振蕩,沖擊放電時間很短,不需要保護球面,而且放電前經(jīng)過球隙的電容電流較大,如果串聯(lián)電阻過大,就會影響測量結(jié)果。但也不能不串接電阻,因為仍有防止過電壓的問題,一般規(guī)定串聯(lián)電阻以不超過500Ω為宜。
球隙的沖擊放電電壓是有分散性的,在經(jīng)過2~3次預(yù)放電以后才逐漸趨向穩(wěn)定值。所謂穩(wěn)定值仍是一個較小范圍內(nèi)的分散值,所以球隙采用50%放電電壓法來測量沖擊電壓。所謂球隙的50%放電電壓值是指在此電壓作用下,所用球間隙的放電概率為50%。一種簡單的做法是,例如使某一沖擊電壓作用到某一球隙距離上,10次中若有5次放電,5次不放電,則此沖擊電壓為該球隙距離的50%放電電壓。但要在10次中正好有5次放電、5次不放電,實踐中有困難,所以有規(guī)定認為,如果10次中能有4次放電、6次不放電;或6次放電、4次不放電則都可算作50%放電電壓。概率本身代表多次事件中出現(xiàn)的頻率,次數(shù)少了不一定準確。很有可能,即使電壓、距離都不變,這10次中的放電概率與后10次中的不很相同,但如果次數(shù)多了,還是可能得出一準確的電壓與放電概率的關(guān)系。
不僅球隙測量用50%放電電壓,所有自恢復(fù)絕緣,只要它的放電分散情況符合正態(tài)分布規(guī)律,都可采用50%放電電壓。確定50%放電電壓的方法分多級法和升降法等。

 

1多級法
如圖7-3所示,用多級法求某一間隙的50%放電電壓時,可向此間隙逐級施加電壓U,每級電壓施加10~20次,電壓級數(shù)不少于4級。求得在該電壓下的放電概率,然后在正態(tài)概率紙上標出相應(yīng)于U的概率點。如此做4~5點,即可得出一條擬合直線,由此直線可求得對應(yīng)于P=50%的U值,即為50%放電電壓Uso。一般認為在P=20%~80%范圍內(nèi)P與U近似為直線關(guān)系,在P=50%~80%%做一點及P=20%~50%做一點,連成直線即可求得U50。又從正態(tài)概率紙上求得P為15.86%以及84.14%點所對應(yīng)的U值,此兩點中任何一點和U50%之差,即標準偏差σ。


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電壓與放電概率



2.升降法
確定50%放電電壓U5o的另一種方法為升降法。用升降法時,先預(yù)估該間隙50%放電電壓,并取ΔU=(1%~6%)U'為升降電壓級差。對間隙施加電壓U',不放電則下次升一級,施加U'+ΔU,否則降一級,施加U'-ΔU,每次都以前一次放電與否作為電壓降或升的依據(jù),從第一個有用點起連續(xù)加壓20~40次(一般不超過40次)。如果U'選得過低,可能前幾次都是耐受,這些數(shù)據(jù)是無效的,一直要電壓升到出現(xiàn)第一次擊穿,才可能算第一個有用的電壓值;反之,若U'選得過高,則一直要電壓降到出現(xiàn)第一次耐受才可能算第一個有用的電壓值。為了減小由于U'取值不當引起的誤差,最初的至少有兩次電壓值不計入運算。且在任何情況下,所取的第一次有用的電壓值與U50相差不應(yīng)大于2ΔU。試驗過程中,為避免前一次放電的影響,每次加壓時間間隔不小于30s。
U50可按式(1)求得


image.png
式中,U1為某一次試驗電壓值;m為自第一個有效電壓開始的連續(xù)的總加壓次數(shù)。

7.2.4 球隙法測量高電壓的優(yōu)缺點
測量球隙作為一種高電壓測量方法的優(yōu)點是:
1)可以測量穩(wěn)態(tài)高電壓和沖擊電壓的幅值,幾乎是直接測量超高電壓的設(shè)備。
2)結(jié)構(gòu)簡單,容易自制或購買,不易損壞。
3)有一定的準確度,一般認為測量交流及沖擊電壓時的擴展不確定度可在±3%以內(nèi)。
測量球隙的缺點是:
1)測量時必須放電,放電時將破壞穩(wěn)定狀態(tài),可能引起過電壓。
2)測量較費時間。除了因為要通過多次放電進行測量外,施壓過程也不能太快。開始應(yīng)施加相當?shù)头档碾妷?,使不致因開關(guān)操作瞬間產(chǎn)生球隙放電;然后也應(yīng)緩慢升壓,以使在球隙放電瞬間,低壓側(cè)儀表能夠準確地讀數(shù)。
3)實際使用中,測量穩(wěn)態(tài)電壓要進行多次放電,測量沖擊電壓要用50%放電電壓法,手續(xù)都較麻煩。
4)要校正大氣條件。
5)被測電壓越高,球徑越大,目前已有用到直徑為3m的銅球,不僅本身越來越笨重,而且影響建筑尺寸。從發(fā)展的角度來看,測量球隙的使用將越來越少。
6)一般來說,測量球隙不宜用于室外。實踐證明,由于強氣流以及灰塵、砂土、纖維和高濕度的影響,球隙在室外使用時常會產(chǎn)生異常放電。
盡管測量球隙具有上述缺點,IEC及國家標準都規(guī)定,它是一種能以規(guī)定的準確度來測量高電壓的標準測量裝置。此外,標準還規(guī)定了可采用棒-棒間隙來測量直流高壓,并可用它作為標準測量裝置來校核未認可的測量裝置。在滿足一定條件的情況下,它的測量不確定度估計小于3%。



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