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電壓擊穿強(qiáng)度測試主要特征

更新時間:2022-04-15      點擊次數(shù):3532

電壓擊穿強(qiáng)度測試主要特征

中航時代ZJC-50E (10).jpg


普遍規(guī)律:任何介質(zhì)的擊穿總是從電氣性能最薄弱的缺陷處發(fā)展起來的,所謂的缺陷可以指電場的集中,也可指介質(zhì)的不均勻性。

擊穿特性:

   ?一般情況下,在氣、液、固三種電介質(zhì)中,固體密度最大,耐電強(qiáng)度也最高。

       耐電強(qiáng)度:空氣一般在   3~4kV/mm;

                    液體一般在10~20 kV/mm;

                    固體一般在十幾~幾百 kV/mm;

    ?固體電介質(zhì)的擊穿過程最復(fù)雜,且擊穿后是不可恢復(fù)的絕緣。

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固體介質(zhì)擊穿特性曲線

區(qū)域A:擊穿時間小于10?s 的區(qū)域,此范圍內(nèi)擊穿電壓隨擊穿時間的縮短而提高。類似于氣體介質(zhì)擊穿的伏秒特性。

區(qū)域B:擊穿時間在10?0.2 ?s范圍的區(qū)域,此范圍內(nèi)擊穿電壓恒定,與時間無關(guān)。

            這兩個區(qū)域內(nèi)的擊穿都具有電擊穿的性質(zhì)

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電工紙板的擊穿電壓與電壓作用時間的關(guān)系

1 電擊穿

     固體介質(zhì)的電擊穿是指僅僅由于電場的作用而直接使介質(zhì)破壞并喪失絕緣性能的現(xiàn)象,電擊穿過程與氣體中相似,碰撞電離形成電子崩,固體電介質(zhì)中存在的少量傳導(dǎo)電子,在電場加速下與晶格結(jié)點上的原子碰撞,當(dāng)電子崩足夠強(qiáng)時破壞介質(zhì)晶格結(jié)構(gòu)導(dǎo)致?lián)舸?/span>

     在介質(zhì)的電導(dǎo)很小,又有良好的散熱條件以及介質(zhì)內(nèi)部不存在局部放電的情況下,固體介質(zhì)的擊穿通常為電擊穿。

電擊穿的主要特征:

    ?擊穿電壓高,擊穿時間短;

    ?與周圍環(huán)境溫度無關(guān);

    ?除時間很短的情況,與電壓作用時間關(guān)系不大;

    ?介質(zhì)發(fā)熱不顯著;

    ?電場均勻程度對擊穿有顯著影響;

    ?體積效應(yīng):擊穿場強(qiáng)數(shù)據(jù)分散性很大,與材料不均勻性有關(guān)。加大試樣的面積或體積,使材料弱點出現(xiàn)的概率增大,會使擊穿場強(qiáng)降低。

累積效應(yīng):固體介質(zhì)在沖擊電壓多次作用下,其擊穿電壓有可能低于單次沖擊作用時的值。因為固體介質(zhì)為非自恢復(fù)絕緣,如每次沖擊電壓下介質(zhì)發(fā)生部分損傷,則多次作用下部分損傷會擴(kuò)大而導(dǎo)致?lián)舸?/span>

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固體介質(zhì)沖擊電壓試驗時的累積效應(yīng)

2 熱擊穿

     絕緣介質(zhì)在電場作用下,會因電導(dǎo)電流和介質(zhì)極化引起介質(zhì)損耗,使介質(zhì)發(fā)熱。介質(zhì)電導(dǎo)率隨溫度的升高而急劇增大,因此介質(zhì)的發(fā)熱因溫度的升高而增加。如果介質(zhì)中產(chǎn)生的熱量總是大于散熱,則溫度不斷上升,以致引起電介質(zhì)分解、熔化、炭化或燒焦,造成材料的熱破壞而導(dǎo)致?lián)舸?,這一過程稱電介質(zhì)的熱擊穿過程。

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    U較小時,在絕緣能夠耐受的溫度下達(dá)到熱平衡,否則達(dá)到破壞溫度。

    持續(xù)電壓作用下,有足夠的時間到達(dá)穩(wěn)態(tài)。

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介質(zhì)發(fā)熱(曲線1,2,3)及散熱(曲線4)與介質(zhì)溫度的關(guān)系

U1> U2> U3

熱擊穿的主要特征:


?擊穿電壓較低,擊穿時間較長;

?擊穿電壓與環(huán)境溫度、周圍媒質(zhì)的散熱能力和散熱條件有關(guān);

?擊穿電壓與電壓作用時間有關(guān);

?擊穿電壓與頻率有關(guān):image.png

?擊穿電壓與介質(zhì)本身的耐熱能力有關(guān);

?擊穿電壓與介質(zhì)尺寸有關(guān)。


3 電化學(xué)擊穿

機(jī)理:介質(zhì)劣化的結(jié)果

        局部放電使介質(zhì)引起化學(xué)離解,形成樹枝狀通道,這些樹枝狀通道,隨時間推移不斷伸長,使絕緣進(jìn)一步劣化,最終發(fā)展到整個電介質(zhì)擊穿。

特點:擊穿由絕緣性能下降引起,比電擊穿和熱擊穿電壓低,可以在工作電壓下發(fā)生。

電介質(zhì)中的樹枝老化

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局部放電的危害:

?放電過程產(chǎn)生的活性氣體O3、NO、NO2等對介質(zhì)的氧化、腐蝕作用

?放電過程有帶電粒子撞擊介質(zhì),引起局部溫升,加速介質(zhì)氧化并使局部電導(dǎo)和介質(zhì)損耗增大

?帶電粒子的撞擊還可能切斷分子結(jié)構(gòu),導(dǎo)致介質(zhì)破壞

局放對有機(jī)介質(zhì)的影響尤為顯著。


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