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用于不同絕緣材料的絕緣強(qiáng)度、介電強(qiáng)度、擊穿電壓測(cè)試的典型電極匯總

更新時(shí)間:2017-11-09      點(diǎn)擊次數(shù):5893

用于不同絕緣材料的絕緣強(qiáng)度、介電強(qiáng)度、擊穿電壓測(cè)試的典型電極匯總:

1. 裝置

1.1 電壓源—由變化正弦低壓電源通過(guò)升壓變壓器提供測(cè)試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應(yīng)具有以下功能:

1.1.1 電壓峰值與電壓有效值的比率應(yīng)等于(1.34到1.48),對(duì)于電路中的測(cè)試樣品,所有的電壓都應(yīng)大于擊穿電壓的50%。

1.1.2 電壓應(yīng)具有滿足維持到擊穿電壓的能力。對(duì)于大多數(shù)的材料來(lái)說(shuō),使用與表1所示電極相似的電極,輸出電流強(qiáng)度為40mA就可以了。對(duì)于更復(fù)雜的電極結(jié)構(gòu),或是對(duì)于高損耗測(cè)試材料,則需要更高的電流。對(duì)于大多數(shù)測(cè)試來(lái)說(shuō),電源需要在測(cè)試低電容的0.5kVA,10kV到5kVA,100kV的范圍內(nèi)變化。

表1  用于不同絕緣材料絕緣強(qiáng)度測(cè)試的典型電極A

電極類型

電極說(shuō)明B,C

絕緣材料

1

反向柱直徑51mm(2in),圓邊厚度25mm(1in),

半徑6.4mm(0.25in)

平板紙張,薄膜,織物,橡膠,塑料,復(fù)合材料,木板,玻璃,云母和陶瓷

2

反向柱直徑25mm(1in),圓邊厚度25mm(1in),

半徑3.2mm(0.125in)

和1型相同,尤其對(duì)于玻璃,云母,塑料和陶瓷

3

反向柱棒直徑6.4mm(0.25in),圓邊直徑為0.8mm

(0.313in)D

與1型相同,尤其對(duì)于油漆,塑料以及其他薄膜和磁帶:尤其是需要更小電極的小試樣,或是要求小區(qū)域測(cè)量的試樣

4

平板寬6.4mm(0.25in),長(zhǎng)108mm(4.25in),兩端平徑3.2mm(0.125in)

與1型相同,尤其是橡膠磁帶和其他較窄的薄片材料

5

半球形電極直徑12.7mm(0.5in)E

裝填和處理化合物,膠狀和半固體化合物及油脂,包封,密封和壓縮材料

6

反向柱:低的一個(gè)直徑75mm(3in),15mm(0.6in)

厚,高的一個(gè)直徑25mm(1in),25mm厚,兩者圓形邊緣的半徑都為3mm(0.12in)F

與1和2型一樣

7

反向循環(huán)平板,直徑150mmG,10mm厚,圓形邊緣的半徑為3到5mmH

平板,厚板,或板塊材料,測(cè)試的電壓梯度都平行于表面

A 在ASTM標(biāo)準(zhǔn)中,這些電極都是zui常被或是被參考使用的。除了5型電極外,不建議將電極用于平面材料以外材料。ASTM使用的其他電極或是買賣雙方都認(rèn)可但本表中未列出的其他電極也適于對(duì)測(cè)定材料進(jìn)行評(píng)測(cè)。

B 電極通常采用黃銅或不銹鋼制造。應(yīng)參考控制被測(cè)材料的標(biāo)準(zhǔn),以確定材料是否合適。

C 電極表面應(yīng)拋光并清除上次測(cè)試留下的雜物。

D 參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn),以確定所安裝上側(cè)電極的負(fù)載力。除非另有說(shuō)明,否則上側(cè)電極應(yīng)重50±2g。

E 參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn),以確定適當(dāng)間距的梯度。

F IEC出版物243-1給出了6型電極,以測(cè)定平板材料。對(duì)于電極的同心度來(lái)說(shuō),他們沒(méi)有1型和2型電極那么重要。

G 只要測(cè)試樣品圓形邊緣的內(nèi)側(cè)直徑大于15mm,也可使用其他直徑。

H 7型電極,即注G中所描述的電極,由IEC出版物243-1給出,測(cè)量時(shí)應(yīng)平行與表面。

1.1.3 根據(jù)12.2,對(duì)可變低壓源的控制可以改變電源的壓力,使得合成的測(cè)試電壓流暢,均勻,沒(méi)有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下,都不允許峰值電壓超過(guò)顯示電壓有效值的1.48倍。電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測(cè)試(參見(jiàn)12.2.1)或慢速測(cè)試(參見(jiàn)12.2.3)。

1.1.4 在電源上安裝可以在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行的切斷設(shè)備。該設(shè)備將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備切斷,以保護(hù)電壓源不受試樣擊穿造成設(shè)備過(guò)載的影響。如果破裂后保持持續(xù)的電流,將造成測(cè)試樣品不必要的燃燒,電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。

1.1.5 斷路設(shè)備應(yīng)具有位于次級(jí)升壓變壓器上可以調(diào)節(jié)電流的檢測(cè)元件,以便根據(jù)測(cè)試樣的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整和排列,以檢測(cè)試驗(yàn)電流。設(shè)置檢測(cè)元件以應(yīng)對(duì)12.3所定義的測(cè)試樣擊穿電流。

1.1.6 電流設(shè)置對(duì)測(cè)試結(jié)果具有重大影響。設(shè)置應(yīng)足夠高,使得短暫電壓,例如局部放電,無(wú)法通過(guò)斷路器,如果不夠高,將擊穿過(guò)度燃燒的測(cè)試樣,并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設(shè)置并不能適用于所有的測(cè)試樣,這有賴于材料的具體使用情況以及測(cè)試的目的,有必要以多個(gè)電流設(shè)置對(duì)所給測(cè)試樣進(jìn)行測(cè)試。電極區(qū)域?qū)﹄娏鞯脑O(shè)置選擇具有重大的影響。

1.1.7 測(cè)試樣電流感應(yīng)元件應(yīng)位于升壓變壓器的前端。按測(cè)試樣電流校準(zhǔn)電流檢測(cè)刻度。

1.1.8 應(yīng)小心設(shè)置電流控制響應(yīng)。如果控制設(shè)置得太高,在擊穿發(fā)生時(shí),將不會(huì)產(chǎn)生響應(yīng)。如果設(shè)置得太低,就會(huì)對(duì)漏電電流,電容電流或局部放電電流(電暈)產(chǎn)生響應(yīng),或在檢測(cè)元件位于前端時(shí),對(duì)升壓變壓器的磁化電流產(chǎn)生響應(yīng)。

1.2 電壓測(cè)量—備有電壓表以測(cè)定測(cè)試電壓有效值。應(yīng)采用可以讀取峰值的電壓計(jì),將讀數(shù)除以√2即為有效值。電壓測(cè)量電路的總體誤差不能超過(guò)測(cè)量值的5%。另外,無(wú)論采用何種速度,電壓計(jì)響應(yīng)時(shí)間的滯后率不得超過(guò)全程的1%。

1.2.1 通過(guò)將電壓計(jì)或潛在變壓器連接到測(cè)試樣電極上,或連接到變壓器上獨(dú)立的電壓計(jì)線圈上,以測(cè)定電壓。后一種連接方式將不會(huì)影響升壓變壓器的負(fù)載。

1.2.2 要求電壓計(jì)zui大可讀電壓要大于擊穿電壓,以便能夠準(zhǔn)確讀取和記錄擊穿電壓。

1.3 電極—對(duì)于給定的測(cè)試樣結(jié)構(gòu),擊穿電壓還是會(huì)由于測(cè)試電極的幾何形狀以及安裝位置而產(chǎn)生相當(dāng)大的變化。出于這個(gè)原因,在該測(cè)試方法時(shí),應(yīng)說(shuō)明所使用的電極,并在報(bào)告中進(jìn)行說(shuō)明就顯得很重要了。

1.3.1 參考本測(cè)試方法的文件詳細(xì)說(shuō)明了表1中所列的電極。如果沒(méi)有詳細(xì)說(shuō)明的電極,那么應(yīng)從表1中挑選合適的電極,或在由于被測(cè)試材料的性質(zhì)或結(jié)構(gòu)而無(wú)法使用標(biāo)準(zhǔn)電極的情況下,采用雙方都認(rèn)可的其他電極。一些特殊電極的例子,可以參見(jiàn)附錄X2。無(wú)論何種情況,都應(yīng)在報(bào)告中說(shuō)明所采用的電極。

1.3.2 表1中的1到4型及6型電極的整個(gè)平面都應(yīng)與測(cè)試樣相接觸。

1.3.3 采用7型電極測(cè)試的測(cè)試樣,在測(cè)試中應(yīng)處于電極內(nèi),其到電極邊緣的距離不得少于15mm。在大多數(shù)情況下,使用7型電極進(jìn)行測(cè)試時(shí),其電極表面應(yīng)處于垂直位置。水平放置電極的測(cè)試不能與垂直放置電極的測(cè)試進(jìn)行直接比較,尤其對(duì)于在液相環(huán)境介質(zhì)進(jìn)行的測(cè)試。

1.3.4 保持電極表面的清潔和光滑,清除先前測(cè)試所留下的雜物。如果電極表面粗糙,則應(yīng)及時(shí)更換電極。

1.3.5 對(duì)電極的初次生產(chǎn)和隨后的表面重修應(yīng)維持電極的特定結(jié)構(gòu)以及光潔度,這是非常重要的。電極表面的平整度和表面光潔度應(yīng)保證電極的整個(gè)區(qū)域都能與測(cè)試樣緊密接觸。在測(cè)試非常薄的材料時(shí),表面光潔度將尤為重要,這是由于電極不恰當(dāng)?shù)谋砻鏁?huì)對(duì)測(cè)試材料產(chǎn)生物理?yè)p壞。表面重修時(shí),不能改變電極表面與特定邊緣半徑之間的過(guò)渡。

1.3.6無(wú)論在大小或形狀上有多大的差別,位于zui低應(yīng)力集中處的電極,通常是比較大的且具有zui大半徑的那一個(gè),應(yīng)具有接地電位。

1.3.7 在一些特定的液相金屬電極中,將使用電極箔,金屬球,水或?qū)щ娡繉与姌O。應(yīng)該認(rèn)識(shí)到這造成了所得結(jié)果與其他類型電極所獲得的結(jié)果之間存在很大的不同。

1.3.8 由于電極對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,常常會(huì)得到一些額外的信息,以至于需要對(duì)多種電極進(jìn)行測(cè)試才能了解一個(gè)材料(或一組材料)的絕緣性能。這對(duì)于研究測(cè)試尤為具有價(jià)值。

1.4 環(huán)境介質(zhì)—有關(guān)本測(cè)試法的文件應(yīng)說(shuō)明環(huán)境介質(zhì)和測(cè)試溫度。為了避免閃絡(luò)以及使擊穿前局部放電的影響zui小化,即使是對(duì)于快速測(cè)試,應(yīng)更傾向于甚至是必須在絕緣液中進(jìn)行測(cè)試(參見(jiàn)6.4.1)。絕緣液中獲得的擊穿值不能與空氣中獲得的值進(jìn)行比較。絕緣液的性質(zhì)和前次使用的程度也會(huì)影響測(cè)試的結(jié)果。在某些場(chǎng)合,在空氣中進(jìn)行測(cè)試,需要大量的測(cè)試樣,或者會(huì)在擊穿前,造成嚴(yán)重的表面放電以及燒蝕。一些在空氣中測(cè)試的電極系統(tǒng)應(yīng)在電極周圍包上壓力墊片以防止閃絡(luò)。電極周圍墊片或封條的材料將影響擊穿電壓值。

1.4.1 如果在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試,應(yīng)提供適當(dāng)大小的油池。(注意—在測(cè)試電壓高于10kV時(shí),并不推薦使用玻璃容器,因?yàn)閾舸┧尫懦鰜?lái)的能量足以擊碎容器。而金屬池必須進(jìn)行接地)。

    推薦使用滿足標(biāo)準(zhǔn)D3487中I型或II型的礦物油。根據(jù)測(cè)試法D877所測(cè)定的結(jié)果,其擊穿電壓至少為26kV。如果另有說(shuō)明,也可以將其他絕緣液用作環(huán)境介質(zhì)。這些絕緣油包括硅油和其他用于變壓器,斷路器,電容或電纜的液體,但不限于此。

1.4.1.1 絕緣油的性質(zhì)對(duì)測(cè)試結(jié)果具有一定的影響。如上所述,除了擊穿電壓,在測(cè)試較?。ㄐ∮?5μm(千分之一寸)的測(cè)試樣)時(shí),污染物尤其重要。根據(jù)油和測(cè)試材料的性質(zhì),其他的特性如溶解氣體含量,水含量以及油的損耗因子都對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。經(jīng)常更換絕緣油,或使用過(guò)濾器和其他修復(fù)設(shè)備有利于減小絕緣油性能變化對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

1.4.1.2 從不同電學(xué)性能液體中測(cè)得的擊穿值通常不能進(jìn)行比較。(參見(jiàn)Xl.4.7)如果在不同于室溫的條件下進(jìn)行測(cè)試,應(yīng)通過(guò)加熱或冷卻液體確保均勻的溫度。在一些情況下,可以將絕緣池放入加熱箱(參見(jiàn)6.4.2)中以控制溫度。如果要強(qiáng)制循環(huán)液體,應(yīng)防止氣泡進(jìn)入到液體中。除非另有說(shuō)明,否則電極上的測(cè)試溫度應(yīng)維持在±5℃以內(nèi)。在很多情況下,應(yīng)說(shuō)明測(cè)試樣將在絕緣油中進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試樣在測(cè)試前已浸入絕緣油中并且未從絕緣油中取出(參見(jiàn)操作規(guī)程D2413)。對(duì)于這些材料,絕緣池的設(shè)計(jì)應(yīng)保證測(cè)試樣在測(cè)試前不得暴露于空氣當(dāng)中。

1.4.2 如果在其他環(huán)境溫度或濕度下進(jìn)行空氣中的測(cè)試,應(yīng)準(zhǔn)備加熱箱和濕度控制室。加熱箱應(yīng)滿足D5423標(biāo)準(zhǔn)的要求,并能確保測(cè)試電壓適于使用的溫度。

1.4.3除了在空氣以外,在其他氣體中進(jìn)行測(cè)試也要求使用可以排除或充滿測(cè)試氣體的控制室,這些控制室通常還要控制壓力。由所進(jìn)行測(cè)試項(xiàng)目的性質(zhì)決定控制室的設(shè)計(jì)。

1.5 測(cè)試室—進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試室或測(cè)試區(qū)域應(yīng)具有充足的空間以容納測(cè)試設(shè)備,并備有互鎖設(shè)備,以防止接觸到任何帶電部件。電壓源,測(cè)量設(shè)備,池或加熱箱,以及電極的許多不同的物理安排都是可能的,但有三條是必須的(1)所有進(jìn)出帶電部件區(qū)域的門或倉(cāng)門都必須互鎖,以便在開(kāi)始測(cè)試時(shí)切斷電壓源;(2)應(yīng)盡可能的清除干凈,使得電極表面和測(cè)試樣之間沒(méi)有扭曲的區(qū)域,測(cè)試電極之間不會(huì)發(fā)生閃絡(luò)和局部放電(電暈);以及(3)在測(cè)試之間測(cè)試樣的插入和替換都應(yīng)盡可能的簡(jiǎn)單便捷。在測(cè)試中常常需要對(duì)電極和測(cè)試樣進(jìn)行目測(cè)。

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